• zhongxizixun@yjsyi.com
  • анализ
  • исследование и разработка
  • тестирование

Контроль электротехнических и электронных компонентов

Контроль электротехнических и электронных компонентов: Объекты, Области, Методы и Оборудование

Введение
Надежность и безопасность работы любого электротехнического и электронного устройства в критической степени зависят от качества и соответствия требованиям его составных частей – компонентов. Контроль (испытания) электротехнических и электронных компонентов представляет собой комплекс процедур, направленных на проверку их параметров, характеристик и надежности в различных условиях. Этот процесс является неотъемлемой частью производства, приемки, входного контроля и оценки качества на протяжении всего жизненного цикла продукции.

1. Объекты испытаний

Объектами контроля являются все элементы, используемые для построения электрических и электронных схем, включая:

  • Пассивные компоненты: Резисторы (постоянные, переменные), конденсаторы (керамические, электролитические, пленочные и др.), катушки индуктивности, дроссели, трансформаторы, кварцевые резонаторы, фильтры.
  • Активные полупроводниковые компоненты: Диоды (выпрямительные, стабилитроны, светодиоды), транзисторы (биполярные, полевые), тиристоры, симисторы, оптопары.
  • Интегральные микросхемы (ИМС): Аналоговые (операционные усилители, компараторы, стабилизаторы напряжения), цифровые (логические элементы, микропроцессоры, микроконтроллеры, память), смешанные сигнальные (АЦП, ЦАП).
  • Электромеханические компоненты: Реле (электромагнитные, твердотельные), переключатели, кнопки, соединители (разъемы), предохранители.
  • Пьезоэлектрические и акустические компоненты: Пьезоизлучатели, микрофоны, динамики.
  • Датчики: Температурные, давления, влажности, оптические, датчики тока и напряжения.
  • Источники питания: Модули питания (DC/DC, AC/DC), батареи и аккумуляторы.
  • Прочие: Платы печатные (ПП), кабели и жгуты проводов, радиаторы.
 

2. Область испытаний (Проверяемые характеристики)

Контроль компонентов охватывает широкий спектр характеристик для оценки их пригодности и надежности:

  • Электрические параметры:
    • Сопротивление (постоянное, переменному току).
    • Емкость, индуктивность, добротность (Q-фактор), тангенс угла потерь (D).
    • Напряжение пробоя, ток утечки, емкость (для диодов и конденсаторов).
    • Коэффициент усиления тока (Hfe, hFE), пороговое напряжение, токи утечки (для транзисторов).
    • Статическое и динамическое сопротивление в открытом состоянии (для силовых ключей).
    • Пороги срабатывания, время переключения (для логических ИМС, реле).
    • Коэффициент подавления пульсаций (PSRR), уровень шума (для стабилизаторов, ОУ).
    • Входные/выходные сопротивления, напряжения смещения.
    • Параметры источников питания: выходное напряжение/ток, стабильность, пульсации, КПД.
  • Климатические и механические свойства:
    • Устойчивость к температуре (рабочая, хранения, максимальная, минимальная).
    • Устойчивость к влажности и циклам "температура-влажность".
    • Стойкость к тепловым ударам (резким перепадам температуры).
    • Вибростойкость и ударопрочность.
    • Устойчивость к статическим и динамическим механическим нагрузкам (на изгиб, растяжение для контактов).
    • Сопротивление внешним атмосферным факторам (солевой туман, пыль, газовые среды).
  • Надежностные характеристики:
    • Ресурс работы (срок службы при номинальных режимах).
    • Интенсивность отказов (MTBF - Mean Time Between Failures).
    • Результаты ускоренных испытаний на надежность (HALT/HASS).
  • Функциональные характеристики: Проверка выполнения заявленных функций компонента в составе тестовой схемы.
  • Визуальные и геометрические параметры: Целостность корпуса, маркировка, состояние выводов, соответствие габаритным размерам и чертежам.
  • Паяемость: Способность выводов компонента к надежному смачиванию припоем.
 

3. Методы испытаний

Для проверки указанных характеристик применяются различные методы контроля:

  • Электрические измерения:
    • Прямые измерения: Использование мультиметров, LCR-метров для измерения сопротивления, емкости, индуктивности, напряжения, тока.
    • Испытания на пробой: Измерение напряжения пробоя диодов, конденсаторов, изоляции с помощью тестеров высокого напряжения (HIPOT).
    • Испытания на утечку: Измерение токов утечки конденсаторов, транзисторов, диодов.
    • Тестирование ИМС: Использование специализированных стендов и программаторов для проверки логики, параметров аналоговых цепей, памяти микросхем. Граничное тестирование (Margin testing).
    • Импедансометрия: Измерение импеданса компонентов на различных частотах.
    • Генерация сигналов и анализ отклика: Использование генераторов сигналов и осциллографов для анализа временных и частотных характеристик.
  • Климатические испытания:
    • Термостатические испытания: Выдержка компонентов при постоянных высоких или низких температурах в климатических камерах.
    • Термоциклирование: Многократное циклическое изменение температуры между заданными пределами для выявления усталостных разрушений.
    • Испытания на влагостойкость: Выдержка при повышенной влажности (85°C/85% RH и др.) для оценки коррозионной стойкости и сопротивления изоляции.
    • Испытание солевым туманом: Оценка коррозионной стойкости металлических частей и покрытий.
    • Тепловой удар: Быстрая смена температурных режимов для выявления дефектов, связанных с коэффициентом теплового расширения.
  • Механические испытания:
    • Вибрационные испытания: Воздействие синусоидальной, случайной вибрации или механических ударов для оценки прочности конструкции и паек.
    • Испытания на удар и падение.
    • Испытания на усилие вставки/извлечения и долговечность контактов (для разъемов, переключателей).
  • Испытания на надежность (ускоренные):
    • Высокотемпературная выдержка при рабочем смещении (HTOL - High Temperature Operating Life).
    • Высокотемпературное хранение (HTSL - High Temperature Storage Life).
    • Испытание на термоциклирование с подачей питания (PTC - Power Temperature Cycling).
    • Испытания при повышенном напряжении.
  • Визуальный и оптический контроль: Осмотр компонентов невооруженным глазом, с помощью луп или микроскопов на предмет дефектов сборки, маркировки, повреждений корпуса и выводов.
  • Рентгеновский контроль (2D/3D AXI): Просвечивание компонентов для выявления внутренних дефектов (пустоты, трещины, смещения кристаллов), контроля состояния паяных соединений BGA и других элементов под корпусом.
 

4. Испытательное оборудование

Для реализации перечисленных методов испытаний используется широкий спектр специализированного оборудования:

  • Универсальные измерительные приборы: Цифровые мультиметры (DMM), LCR-метры.
  • Специализированные тестеры компонентов: Автоматические измерители параметров полупроводников, пассивных компонентов; тестеры транзисторов, диодов, тиристоров; тестеры ИМС (аналоговых, цифровых, смешанных).
  • Источники питания: Программируемые источники постоянного тока и напряжения, электронные нагрузки.
  • Генераторы сигналов: Генераторы функций (произвольной формы), импульсные генераторы, генераторы ВЧ сигналов.
  • Анализаторы сигналов: Осциллографы (цифровые запоминающие - DSO, смешанные доменные - MDO), анализаторы спектра, векторные анализаторы цепей (VNA).
  • Испытательное оборудование высокого напряжения: Тестеры электрической прочности (HIPOT), тестеры сопротивления изоляции (MegOhmMeter).
  • Климатические камеры: Термостаты, камеры тепла-холода (-70°C...+180°C), камеры тепла-влажности (-70°C...+180°C, 10...98% RH), камеры солевого тумана, камеры теплового удара.
  • Вибрационные установки: Электродинамические вибростенды, шейкеры для воспроизведения синусоидальной, случайной вибрации, испытания на удар.
  • Датчики силы: Динамометры для измерения усилий на контактах разъемов и переключателей.
  • Оборудование для анализа надежности: Стенды для проведения ускоренных испытаний на надежность (HTOL, HTSL, PTC).
  • Визуальное и автоматизированное оптическое контрольное оборудование (AOI): Микроскопы (оптические, стерео, цифровые), автоматические установки оптического контроля.
  • Рентгеновские установки: Аппараты для 2D и 3D рентгеновского контроля (AXI).
  • Оборудование для испытания паяемости: Паяльные станции, установки для измерения смачиваемости.
 

Заключение

Контроль электротехнических и электронных компонентов – это сложный, многоуровневый процесс, требующий глубокого понимания физики работы компонентов, стандартов и регламентов, а также владения современными методами и средствами измерений и испытаний. Грамотно организованный контроль на этапах разработки, входного контроля, производства и эксплуатации позволяет минимизировать риски выхода изделий из строя, повысить их надежность и безопасность, обеспечить соответствие требованиям заказчиков и нормативных документов. Выбор конкретных методов и оборудования для контроля всегда определяется типом компонента, его назначением, критичностью и условиями эксплуатации в конечном устройстве.